- 同軸式檢測,鏡面下角度兼容性±45°
- 可完成透明、鏡面、高反光等幾乎所有材質表面的高精度3D測量
- 一次掃描即可記錄詳細原始數(shù)據(jù)并生成多種形式的2D/3D圖
- 0.1μm Z軸重復精度,X方向分辨率1.1μm
- 2048點/線掃描密度,最快35000線/秒超高速掃描
- 完備的SDK及一站式軟件支持服務
- 可應用于工業(yè)智造、精密測量和科學研究領域?
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